YP-250I池田屋現貨YAMADA山田光學 表面檢查燈
池田屋現貨YAMADA山田光學 表面檢查燈根據具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導體晶片及液晶基板表面的異物 劃痕 拋光不均 霧狀 劃傷等。
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2024-02-21 - 02
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